已閱讀1頁，還剩34頁未讀， 繼續(xù)免費閱讀
版權(quán)說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請進行舉報或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、隨著閃存的設(shè)計制造測試在中國的越來越普及,大規(guī)模制造廠在中國如雨后春筍般的涌出,在實際生產(chǎn)中的測試時間和成品率問題對成本的控制來說就尤為重要.在這里闡述了一個以Intel閃存產(chǎn)品為例,大幅度降低測試時間,擴大產(chǎn)能的方法.
本文共分八章.第一章緒論中,介紹了選題的目的意義;第二章,介紹Intel閃存產(chǎn)品版圖,物理結(jié)構(gòu),功能特性.以對產(chǎn)品有一大概認(rèn)識.第三章,從Sort Class的標(biāo)準(zhǔn)測試流程入手,對以往測試流程及其所能檢測
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽，若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理，對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 新型SONOS單元NOR閃存設(shè)計.pdf
- 軟件重構(gòu)在NOR型閃存封裝個體測試平臺中的應(yīng)用與研究.pdf
- 應(yīng)用串行nor閃存提升內(nèi)存處理能力
- 65nm NOR型閃存芯片RTS噪聲研究.pdf
- 精簡管腳閃存測試的研究和實現(xiàn).pdf
- 優(yōu)化系統(tǒng)時鐘同步讀取測試方法提高Intel NOR 256M閃存產(chǎn)品良率.pdf
- NOR閃存讀出不穩(wěn)定性問題的研究與解決.pdf
- 嵌入SOC中NOR FLASH IP核測試實現(xiàn)研究.pdf
- 閃存的優(yōu)化測試方法.pdf
- MLC NAND閃存失效模式的測試與分析.pdf
- 固態(tài)硬盤閃存控制設(shè)計與實現(xiàn).pdf
- 基于閃存的緩存系統(tǒng)設(shè)計與實現(xiàn).pdf
- NAND閃存卡低成本測試方案開發(fā)和實現(xiàn).pdf
- 基于NOR LPDDR架構(gòu)針對用低頻測試儀測試高速芯片的DFT設(shè)計及實現(xiàn).pdf
- nand閃存卡低成本測試方案開發(fā)和實現(xiàn)
- 對采用浮柵技術(shù)的NOR型閃存電路失效分析中的證據(jù)調(diào)查的探討和研究.pdf
- 載人航天測試發(fā)射流程的設(shè)計與實現(xiàn).pdf
- 閃存智能卡操作系統(tǒng)的設(shè)計與實現(xiàn).pdf
- 基于閃存陣列的數(shù)據(jù)匯集系統(tǒng)的設(shè)計與實現(xiàn).pdf
- 保留時間感知的閃存轉(zhuǎn)換層設(shè)計與實現(xiàn).pdf
評論
0/150
提交評論