基于GPIB的MOSFET器件自動測試系統(tǒng)的設計及實現(xiàn).pdf_第1頁
已閱讀1頁，還剩71頁未讀， 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權，請進行舉報或認領

文檔簡介

1、隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展，封裝測試廠商對測試設備及測試系統(tǒng)的性能和成本提出了新的要求。目前，MOSFET器件的量產(chǎn)過程要求進行雪崩、熱阻和柵極電阻測試。由于包含了這三個測試項目的自動測試設備十分昂貴，所以自主研發(fā)一套能滿足量產(chǎn)需求的高性價比MOSFET自動測試系統(tǒng)變得尤為重要。
　　通用接口總線(General-Purpose Interface Bus，GPIB)是當前廣泛采用的一種組建自動測試系統(tǒng)的接口方式?；贕PIB的自

2、動測試系統(tǒng)將虛擬儀器技術、計算機技術和功能強大的測試儀器整合在一起，具有測試速度快、準確度高、功能強大、可擴展性好、性價比高等優(yōu)點。本文針對南通富士通微電子股份有限公司的需求，基于GPIB設計并實現(xiàn)了MOSFET器件自動測試系統(tǒng)。本文首先介紹了GPIB的通信原理及IEEE-488/IEEE-488.2通信協(xié)議在VB環(huán)境下的實現(xiàn)方法；其次闡述了自動測試系統(tǒng)的組建方法和體系結構：利用GPIB總線將電感測試儀、熱阻測試儀、柵極電阻測試儀和一臺

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預覽，若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理，對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內(nèi)容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內(nèi)容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論