嵌入式系統(tǒng)片上調(diào)試研究.pdf

1、嵌入式系統(tǒng)的開發(fā)和芯片設(shè)計(jì)過程中，有效的調(diào)試方案可以幫助開發(fā)者更快定位設(shè)計(jì)中的缺陷，從而縮短開發(fā)周期。本文研究嵌入式系統(tǒng)的片上調(diào)試機(jī)制，主要包括標(biāo)量處理器的精確異常調(diào)試模型，軟件調(diào)試器和多核嵌入式調(diào)試方案。 論文針對(duì)調(diào)試的低入侵性和可移植性建立了流水線相關(guān)的精確異常調(diào)試模型，模型通過增加精確調(diào)試異常的產(chǎn)生、處理機(jī)制，片外調(diào)試存儲(chǔ)空間和基于JTAG的快速通信協(xié)議，實(shí)現(xiàn)一種通過JTAG接口的嵌入式處理器核的片上調(diào)試方案。模型在RIS

2、C32E中的應(yīng)用表明，該調(diào)試模型具有良好的可觀察性、可控制性、低入侵性和高效的調(diào)試效率。 RlSC32E片上調(diào)試的良好兼容性使其可以使用第三方商用調(diào)試器，但是這些調(diào)試器的不可擴(kuò)展性限制了它們的使用范圍。為了提高調(diào)試器的可擴(kuò)展性，我們開發(fā)了更加靈活的調(diào)試器RDView。設(shè)計(jì)采用分層的軟件設(shè)計(jì)方法，將RDView分為應(yīng)用層，仿真控制層和通信層。根據(jù)RISC32E片上調(diào)試的硬件實(shí)現(xiàn)，RDView增加了對(duì)調(diào)試存儲(chǔ)的有效分配和管理。實(shí)驗(yàn)表

3、明，RDView具有較好的可擴(kuò)展性。 論文從多核嵌入式系統(tǒng)調(diào)試(Multiprocessor Embedded Systems Debug，MESD)的計(jì)算單元可調(diào)試性和處理器核間通信的可調(diào)試性兩個(gè)方面提出調(diào)試方案。MESD通過增加系統(tǒng)級(jí)TAP和跟蹤監(jiān)控器研究了多核系統(tǒng)中計(jì)算單元與內(nèi)核通信的可調(diào)試性，以一個(gè)RISC32E核和兩個(gè)MD32核構(gòu)成的多處理器系統(tǒng)為例分析了多核系統(tǒng)片上調(diào)試方案的可行性和RDView在多核系統(tǒng)中的可重用性