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文檔簡介
1、本文介紹了一種低相噪低雜散頻率源的設(shè)計方法,并給出了最終測試所得的系統(tǒng)性能指標(biāo)。 設(shè)計中混合使用了直接數(shù)字頻率合成(DDS)技術(shù)和鎖相環(huán)(PLL)技術(shù),DDS提供PLL的參考輸入信號,PLL中的鑒相器芯片內(nèi)集成有數(shù)字可編程的預(yù)分頻器和分頻器,通過單片機可以方便地對兩者進(jìn)行程序控制。該結(jié)構(gòu)綜合了DDS和PLL兩者的優(yōu)點,同時又在很大程度上克服了兩者的缺點,很好地滿足了課題的設(shè)計需要。 選用DDS激勵PLL方案是本課題成功的
2、重要保證,用此方案設(shè)計的頻率源最終達(dá)到了以下技術(shù)指標(biāo):輸出頻率范圍為637~701MHz,頻率步進(jìn)為0.5MHz,跳頻周期為20μs,跳頻過渡時間為5μs,相位噪聲為-110d=Bc/Hz@10kHz,雜散優(yōu)于-70dBc。以上單個指標(biāo)并不高,因為合理選用DDS技術(shù)或PLL技術(shù)可以將某個指標(biāo)做得甚至更高,但綜合起來就形成了一個很高的整體技術(shù)指標(biāo),因為要想同時滿足所有指標(biāo),需要在一個系統(tǒng)里同時使用DDS技術(shù)與PLL技術(shù),而兩者混合使用的方
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