SMJ320C6701-DSP抗輻射可靠性測(cè)試研究.pdf_第1頁(yè)
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1、目前空間通信技術(shù)的發(fā)展飛快，越來(lái)越多的微處理器應(yīng)用于衛(wèi)星平臺(tái)。隨著大規(guī)模集成電路的集成度不斷提高，空間輻射對(duì)其的影響也越來(lái)越明顯。DSP作為空間電子儀器的核心器件，其抗輻射可靠性備受關(guān)注。
　　本文以TI公司的高性能浮點(diǎn)數(shù)字信號(hào)處理器（DSP）SMJ320C6701為研究對(duì)象，以DSP的單粒子效應(yīng)測(cè)試方法、總劑量測(cè)試方法為研究目標(biāo)，研究了輻射對(duì)DSP的影響以及表現(xiàn)形式。
　　首先介紹了空間輻射環(huán)境和基本輻射效應(yīng)，并闡述了各種

2、輻射效應(yīng)的分類(lèi)以及產(chǎn)生的機(jī)理，具體介紹了單粒子效應(yīng)的故障模式分類(lèi)以及具體的表現(xiàn)形式，并根據(jù)發(fā)生故障的位置不同，將DSP分為幾種模塊類(lèi)型。
　　然后介紹了DSP的具體結(jié)構(gòu)，根據(jù)DSP各個(gè)模塊的功能特點(diǎn)以及單粒子效應(yīng)在各個(gè)模塊中產(chǎn)生故障的表現(xiàn)形式，給出了具體的測(cè)試方案。其中重點(diǎn)研究了單粒子翻轉(zhuǎn)對(duì)DSP的影響，分別給出了針對(duì)存儲(chǔ)器的專(zhuān)用單粒子翻轉(zhuǎn)測(cè)試程序和針對(duì)整個(gè)存儲(chǔ)型模塊的單粒子翻轉(zhuǎn)測(cè)試程序。
　　最后分析了總劑量效應(yīng)對(duì)DSP性

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