片上網(wǎng)絡(luò)通信架構(gòu)的測(cè)試方法研究.pdf

1、集成電路工藝的不斷發(fā)展，使單個(gè)芯片上集成的晶體管數(shù)目越來(lái)越多，從而出現(xiàn)了片上系統(tǒng)。集成電路集成度的提高帶來(lái)了很多優(yōu)勢(shì)，如體積的減少、成本的降低等。但是，隨著電路規(guī)模越來(lái)越大，片上集成的單元越來(lái)越多，數(shù)據(jù)處理量也越來(lái)越大，傳統(tǒng)的基于總線的片上系統(tǒng)所固有的瓶頸將會(huì)越來(lái)越突出，已不能滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的需要。二十世紀(jì)末一些學(xué)者提出了片上網(wǎng)絡(luò)的概念，其核心思想是將計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)移植到芯片設(shè)計(jì)中來(lái)，從體系結(jié)構(gòu)上徹底解決總線架構(gòu)帶來(lái)的問(wèn)題。片上網(wǎng)絡(luò)具有良

2、好的空間可擴(kuò)展性和很好的并行通訊能力。設(shè)計(jì)方法、制造方法和測(cè)試方法是集成電路發(fā)展不可分割的三個(gè)組成部分。但在集成電路發(fā)展的早期，人們更多的注意力集中在設(shè)計(jì)和制造領(lǐng)域，而且早期的集成電路邏輯設(shè)計(jì)與工藝技術(shù)相對(duì)簡(jiǎn)單，因此測(cè)試方法學(xué)的研究曾一度處于一個(gè)不被重視的地位。隨著集成電路設(shè)計(jì)方法與工藝技術(shù)的不斷進(jìn)步，集成電路的測(cè)試問(wèn)題己經(jīng)成為提高產(chǎn)品可靠性的一個(gè)不可忽視的因素。片上網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試主要包括兩個(gè)方面：通信架構(gòu)的測(cè)試和IP核的測(cè)試。本論文主要是

3、針對(duì)片上網(wǎng)絡(luò)通信架構(gòu)的測(cè)試進(jìn)行研究的，主要工作如下：
　　 1、概述了片上系統(tǒng)的發(fā)展、片上網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)生的技術(shù)背景和研究動(dòng)態(tài)，并簡(jiǎn)要介紹了片上網(wǎng)絡(luò)測(cè)試的相關(guān)知識(shí)及一些現(xiàn)有的測(cè)試問(wèn)題的解決方法。
　　 2、提出了一種片上網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)(通信架構(gòu))的劃分測(cè)試方法。劃分測(cè)試是在偽窮舉測(cè)試的基礎(chǔ)上提出的，它將片上的資源按一定的方法劃分為若干個(gè)分區(qū)，然后采用偽窮舉測(cè)試的方法分別對(duì)每個(gè)分區(qū)進(jìn)行測(cè)試。實(shí)驗(yàn)證明，隨著芯片規(guī)模的增大，劃分測(cè)試比偽窮舉

4、測(cè)試減少了測(cè)試時(shí)間和測(cè)試包數(shù)，降低了測(cè)試功耗，縮小了片上報(bào)錯(cuò)的范圍，同時(shí)也在一定程度上緩解了擁塞和熱點(diǎn)等問(wèn)題的產(chǎn)生。另外，還提出了一種錯(cuò)誤定位的方法，可以將出錯(cuò)的路由器或通道定位到出錯(cuò)分區(qū)的具體位置。
　　 3、在總結(jié)片上網(wǎng)絡(luò)多播測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，針對(duì)多播測(cè)試方法的缺陷提出了兩種改進(jìn)的片上網(wǎng)絡(luò)路由器的測(cè)試方法。在兩種改進(jìn)的方法中，所有的測(cè)試數(shù)據(jù)包都是連續(xù)進(jìn)行轉(zhuǎn)發(fā)的，而不是等待某個(gè)路由器接收完所有測(cè)試數(shù)據(jù)包并在測(cè)試完畢后再進(jìn)行轉(zhuǎn)發(fā)