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文檔簡介
1、光學(xué)對位技術(shù)是光刻技術(shù)最重要的技術(shù)之一,其對位精度和速度一定程度上決定了產(chǎn)品的質(zhì)量和生產(chǎn)率,因此研究和探索高精度的光學(xué)對位方法尤為重要。
基于本課題組現(xiàn)有的激光投影光刻機(jī)進(jìn)行了光刻實(shí)驗(yàn),并且達(dá)到了預(yù)想成果:經(jīng)過顯影后的PCB基板的線寬為15μm,邊緣清晰,并且通過一系列的實(shí)驗(yàn),找到了針對本試驗(yàn)系統(tǒng)的最佳曝光條件:在距離激光定位工作臺(tái)為8cm的位置上,通過激光投影物鏡系統(tǒng)的前提下,當(dāng)激光器的重復(fù)頻率為15Hz,基板的曝光時(shí)間
2、20s,顯影時(shí)間為60s以及顯影溫度為30攝氏度可以達(dá)到最佳曝光。
由于現(xiàn)有的光刻系統(tǒng)缺乏光學(xué)對位系統(tǒng),在現(xiàn)有條件基礎(chǔ)上,自行設(shè)計(jì)并使用了一套行之有效的光學(xué)對位系統(tǒng),該光學(xué)系統(tǒng)的對位精度達(dá)到2μm,可以實(shí)現(xiàn)XYZ三個(gè)維度的調(diào)節(jié)。該光學(xué)系統(tǒng)的創(chuàng)新之處體現(xiàn)在不再采用機(jī)械方法進(jìn)行自動(dòng)調(diào)焦,而是利用實(shí)驗(yàn)過程中總結(jié)的關(guān)于焦深及焦平面的規(guī)律對對位方法中的自動(dòng)對焦算法進(jìn)行了改進(jìn)。
結(jié)合現(xiàn)有的光學(xué)系統(tǒng),選擇光度型光學(xué)對位系統(tǒng)
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