脈沖加熱紅外熱成像無損檢測技術(shù)的機理研究.pdf

1、脈沖加熱紅外熱成像無損檢測技術(shù)是八十年代初發(fā)展起來的一種非接觸式無損檢測方法,是集光、機、電子于一體的實用化高新科學(xué)技術(shù),國外對該技術(shù)的十幾年的歷史,國內(nèi)尚屬首次研究.該文在已有研究工作的基礎(chǔ)上,對PHIT無損檢測機理做了進一步的研究工作,得出了一些新的研究成果.研究了實驗室現(xiàn)有的PHIT無損檢測系統(tǒng)中脈沖加熱源的特性,得出了時間特性和空間特性,指出了影響時間特性和空間特性的主要因素,這為日后系統(tǒng)特性改善提供了可靠的實驗數(shù)據(jù).在研究試件

2、內(nèi)部傳導(dǎo)的熱流問題時,由于邊界條件復(fù)雜,研究很難求得三維熱傳導(dǎo)方程的解析解,為此研究人員采用了計算機模擬的方法來求解.三維模型解的求出使研究人員能深入的研究熱流在試件內(nèi)部的傳播情況.在影響熱流傳播的諸多主要因素中,研究了缺陷深度、缺陷大小、試件厚度、試件大小、環(huán)境溫度、脈沖加熱功率以及不同材料對熱流的影響,得出的結(jié)果與實驗情況相符.在討論檢測能力時,引入了最佳理論檢測靈敏度的概念,討論了影響最佳理論檢測靈敏度的幾個因素.缺陷面積是檢測者