集成電路IP硬核評測技術的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著半導體工藝的迅速發(fā)展,越來越多的SoC系統(tǒng)采用了IP硬核復用技術。IP硬核易于集成,性能穩(wěn)定,可縮短SoC設計時間。但由于IP硬核的工藝要求較高,使得對其測試非常復雜。國內尚無IP硬核的評測標準,IP硬核的測試已經成為IP硬核設計和復用的瓶頸。因此研究IP硬核的評測技術成為國家信息產業(yè)的重大課題,具有重要的理論價值和實際意義。
　　本文研究了國內外IP核相關的最新標準,對不同種類IP硬核的測試方法做了分類研究,重點研究了IP硬

2、核的硅驗證、功能驗證和電參數測試方法。利用集成電路測試機臺Verigy93000構建了IP硬核的測試平臺。根據IP硬核的測試方法,利用Verigy93000分別對數字IP硬核PLL680、模擬/混合IP硬核S0133AD和S018DA進行了測試實踐。同時對模擬/混合IP硬核的關鍵算法進行了較為深入的探索和研究。從測試結果來看,測試方法正確,測試的各項指標均符合要求。本文還研究了IP硬核的質量評估技術,提出并建立了IP硬核質量評估的數學模

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