基于覆蓋率驅(qū)動(dòng)的自動(dòng)化驗(yàn)證平臺(tái)實(shí)現(xiàn)——多路路由器的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證.pdf

1、本論文重點(diǎn)研究集成電路開(kāi)發(fā)的驗(yàn)證技術(shù)。隨著集成電路技術(shù)的高速發(fā)展，芯片設(shè)計(jì)的規(guī)模越來(lái)越大，功能越來(lái)越復(fù)雜，致使電路設(shè)計(jì)周期的延長(zhǎng)以及邏輯功能錯(cuò)誤發(fā)生率攀升，從而給芯片開(kāi)發(fā)帶來(lái)更大的風(fēng)險(xiǎn)。驗(yàn)證工作在整個(gè)集成電路開(kāi)發(fā)中的地位越來(lái)越重要，而設(shè)計(jì)的復(fù)雜度和規(guī)模增大也使驗(yàn)證工作的難度逐步增加，當(dāng)前，大規(guī)模集成電路開(kāi)發(fā)的前端設(shè)計(jì)流程中，驗(yàn)證工作已經(jīng)占到總工作量的60％-70‰成為集成電路設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)中的瓶頸，找到高效、可行的驗(yàn)證方法非常重要。
　

2、　 論文首先介紹驗(yàn)證的基本定義和分類(lèi)。探討了功能驗(yàn)證方法、基于HDL語(yǔ)言的直接驗(yàn)證方法以及面對(duì)對(duì)象的驗(yàn)證方法；高級(jí)的驗(yàn)證方法-基于覆蓋率驅(qū)動(dòng)的自動(dòng)化驗(yàn)證平臺(tái)Specman Elite驗(yàn)證方法，使用這種方法驗(yàn)證一個(gè)多路理由器的IP核設(shè)計(jì)。
　　 論文研究開(kāi)發(fā)基于仿真的specman驗(yàn)證流程。首先對(duì)多路路由器的協(xié)議及設(shè)計(jì)詳細(xì)規(guī)范進(jìn)行分析，提出電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證計(jì)劃。然后根據(jù)系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證計(jì)劃從中提取驗(yàn)證目標(biāo)要求。開(kāi)發(fā)步驟包括：1)根據(jù)設(shè)計(jì)