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文檔簡介
1、阻變存儲器作為下一代非易失性存儲器的有力競爭者之一,在最近十多年來吸引了廣泛的關(guān)注。作為阻變存儲器的核心,阻變材料的阻變性能和阻變機制一直是相關(guān)研究方向中的熱點問題。本文采用脈沖激光沉積(Pulsed Laser Deposition,PLD)技術(shù)在Pt/Ti/SiO2/Si基片上制備了TiO2為功能層的薄膜型阻變存儲器單元。本論文通過控制 TiO2薄膜的沉積和退火工藝條件改變 TiO2薄膜中的氧空位缺陷,測試TiO2阻變效應(yīng)和制備工藝
2、的關(guān)系,系統(tǒng)分析TiO2薄膜的導(dǎo)電機制,結(jié)合XPS分析等手段討論了TiO2薄膜的阻變模型。
(1)論文首先通過脈沖激光沉積技術(shù)在Pt/Ti/SiO2/Si基片上制備TiO2為功能層的薄膜型阻變存儲器單元。采用 X射線衍射(XRD)、原子力顯微鏡(AFM)、掃描電子顯微鏡(SEM)等手段,分析了氧分壓、沉積溫度、激光能量等制備工藝對TiO2薄膜結(jié)構(gòu)的影響。通過電流-電壓(I-V)測試研究阻變開關(guān)比與沉積工藝的關(guān)系,觀察到不需要電
3、形成過程及開關(guān)比1000倍的阻變現(xiàn)象,確定了優(yōu)化的TiO2沉積工藝:溫度為600℃、沉積氧分壓為10Pa、激光能量為150 mJ。
?。?)基于上述優(yōu)化制備工藝,進一步通過系統(tǒng)地調(diào)控原位退火氧分壓,在TiO2薄膜中得到開關(guān)比50000倍非對稱的雙極性阻變行為。通過控制退火氧分壓,顯著提高了TiO2薄膜I-V曲線的一致性。在10Pa退火條件下制備的TiO2薄膜經(jīng)過1500次翻轉(zhuǎn)仍然具有良好的一致性。
?。?)最后,通過測試
4、不同電極面積I-V曲線、不同溫度下的I-V曲線,并對I-V曲線進行擬合分析TiO2阻變薄膜的導(dǎo)電機理,采用上述方法制備的TiO2阻變效應(yīng)是受空間電荷限制電流模型(SCLC)和肖特基發(fā)射模型(SE)控制產(chǎn)生。
綜上所述,本文通過系統(tǒng)研究TiO2薄膜的PLD沉積工藝,控制 TiO2薄膜的原位退火工藝,制備出 TiO2阻變薄膜材料,分析了薄膜阻變開關(guān)比與制備工藝的關(guān)系。導(dǎo)電機制分析表面所制備 TiO2薄膜的阻變機制為界面型,具有較好
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