微型接電開關的性能測試與結構改進.pdf

1、MEMS技術的不斷發(fā)展，對引信的微型化和智能化發(fā)展有著重要意義。微型接電開關是基于MEMS技術原理的引信用慣性開關，目前針對它的原理探索和研究設計已經取得了一定進展。以研制完成的接電開關為基礎，將建立一套完整的性能測試方案，并根據測試結果進行結構改進。
　　通過對接電開關的工作環(huán)境進行特征分析，提出了接電開關在性能測試中的技術要求，包括動態(tài)響應性能、抗高過載性能和開關導通性能。在動態(tài)響應性能中確定了正常發(fā)射環(huán)境載荷脈沖和勤務跌落環(huán)

2、境載荷脈沖閾值。
　　對微型接電開關設計了性能測試方案并進行測試。分別模擬了閾值為15000g-0.3ms的勤務環(huán)境沖擊載荷和3000g-3ms的發(fā)射環(huán)境沖擊載荷，測試結果表明接電開關在勤務環(huán)境下保持斷開，但在發(fā)射環(huán)境下閉合狀態(tài)并不穩(wěn)定。接電開關無法承受27500左右的高過載沖擊。在開關接通之后可視為電阻值約為2.5Ω的負載電阻。
　　針對性能測試分析中開關的動態(tài)響應不穩(wěn)定性，進行接電開關的結構改進設計。研究了曲折槽機構參數(shù)