TFT-LCD閃爍測試系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display)即薄膜電晶體液晶顯示器。閃爍是衡量TFT-LCD性能的一項(xiàng)重要指標(biāo)。生產(chǎn)TFT-LCD的工廠在產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中,會(huì)對(duì)每片產(chǎn)品進(jìn)行閃爍測量和調(diào)試,以確保出廠的產(chǎn)品滿足客戶的要求。目前行業(yè)對(duì)閃爍的測試主要采用光學(xué)測試設(shè)備CA-210,但是CA-210設(shè)備成本太高,使得生產(chǎn)成本投入過高,這樣就需要一款低成本并且能達(dá)到測試要求的閃爍測試工具。

2、
  閃爍目前有二種計(jì)算方法:一種是對(duì)比法;一種是JEITA法。通過對(duì)兩種方法進(jìn)行對(duì)比分析, CA-210探頭采集到的信號(hào)需要經(jīng)過CA-210主機(jī)分析后再通過集成儀和FFT分析儀后才能得到JEITA值,而對(duì)比法的結(jié)果可以直接由CA-210探頭采集到的信號(hào)經(jīng)由主機(jī)運(yùn)算得到。從成本角度考慮,本方案選用了對(duì)比法。通過對(duì)CA-210的實(shí)現(xiàn)原理進(jìn)行分析,本方案采用光學(xué)傳感器對(duì)閃爍的光信號(hào)進(jìn)行采集,轉(zhuǎn)化為電信號(hào),電信號(hào)經(jīng)過放大處理,通過MCU

3、內(nèi)部的A/D轉(zhuǎn)換模塊,實(shí)現(xiàn)模擬信號(hào)到數(shù)字信號(hào)的轉(zhuǎn)變,并對(duì)采集到的數(shù)字信號(hào)運(yùn)用對(duì)比法的計(jì)算公式進(jìn)行運(yùn)算處理,得到閃爍測試結(jié)果。最后經(jīng)過顯示模塊實(shí)現(xiàn)結(jié)果的可視化。
  通過理論可行性分析后進(jìn)行了樣品的試制。試制樣品經(jīng)過硬件和軟件調(diào)試,實(shí)現(xiàn)了正常工作。樣品的閃爍測試結(jié)果與CA-210的閃爍測試結(jié)果進(jìn)行了對(duì)比,測試結(jié)果變化曲線與CA-210的基本吻合,測試精度在CA-210測試精度范圍內(nèi),確定了本方案完全可以替代CA-210來完成工廠生產(chǎn)

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