微波毫米波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)測量研究.pdf

1、材料特性的研究是各種電子系統(tǒng)應(yīng)用的前提。對于非磁性材料而言，對其復(fù)介電常數(shù)的掌握非常關(guān)鍵?，F(xiàn)代微波數(shù)字系統(tǒng)中，隨著信號的傳輸速率不斷提高，介質(zhì)材料的特性對信號互聯(lián)的影響變得越來越重要。
　　本文介紹了一種微波波段測量印刷板電路的介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)的方法。該方法使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀作為測量儀器，并且使用與同軸測量端口相匹配的帶狀線傳輸線作為待測結(jié)構(gòu)。帶狀線的復(fù)介電常數(shù)信息反映在其特征阻抗和復(fù)傳播常數(shù)中，特征阻抗和復(fù)傳播常數(shù)可由其ABC

2、D矩陣得到，而由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量得到的二端口散射矩陣(即S參數(shù)矩陣)可直接轉(zhuǎn)換為ABCD矩陣。為得到帶狀線正確的S參數(shù)，需要對測量系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。TRL校準(zhǔn)是一種普遍應(yīng)用于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的校準(zhǔn)技術(shù)。本文采用的校準(zhǔn)方法便是由TRL校準(zhǔn)原理衍生而來。在實際測量中，本文使用一種較新型的高精度射頻同軸連接頭并使用力矩扳手，以此來保證測量的可重復(fù)性。
　　此外，本文還對毫米波波段測量介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)的開放腔測量法進(jìn)行了分析介紹，著重對開放