帶約束條件的層次型SOC測試規(guī)劃研究.pdf

1、分類號密級UDC編號桂林電子科技大學碩士學位論文題目帶約束條件的層次型帶約束條件的層次型SOCSOC測試規(guī)劃研究測試規(guī)劃研究（英文）（英文）ResearchontheOptimizationofHierarchialSOCTestArchitecturewithConstraints研究生姓名:董祥健指導教師姓名、職務指導教師姓名、職務:許川佩教授申請學位門類:工學碩士學科、?？?、專業(yè):精密儀器及機械提交論文日期:2010年4月論文答辯

2、日期:2010年6月年月日摘要I摘要隨著微電子技術(shù)的發(fā)展，原本需要多個芯片配合實現(xiàn)的復雜系統(tǒng)可以集成到單一芯片上，系統(tǒng)級芯片（systemonchipSOC）由此而問世。SOC芯片滿足了市場對小型化的要求，但同時其復雜的內(nèi)部結(jié)構(gòu)也對芯片測試工作提出了更高的要求。龐大的測試數(shù)據(jù)量和過長的測試時間導致測試成本迅速增加，從而使得測試成為SOC設計的一個瓶頸，因此尋求有效的方法降低測試成本成為業(yè)界研究的熱點。目前已有的研究中許多測試優(yōu)化研究都建

3、立在IP核處在同一層次的假設上。但在實際中，大多SOC都是層次型的，因此層次型SOC的測試結(jié)構(gòu)優(yōu)化研究具有重要的現(xiàn)實意義。除此之外，測試功耗等相關約束條件也日益成為實際測試工作必須考慮的因素。本文研究了基于IEEEP1500環(huán)的測試包封和基于測試總線的測試訪問機制，將量子進化算法引入到層次型SOC的測試結(jié)構(gòu)優(yōu)化中，并在此基礎上加入測試功耗等約束條件，對SOC測試結(jié)構(gòu)優(yōu)化算法過程中所表現(xiàn)出的特征進行分析，得出參數(shù)集與SOC測試時間的關系，

4、獲取最優(yōu)參數(shù)，以優(yōu)化后的參數(shù)結(jié)果作為算法中的參數(shù)初始值，完成數(shù)學模型的建立并得到相應的測試集。由于測試集中無關位的含量比較高，因此本文首先通過共享廣播技術(shù)來初步壓縮測試集，在此基礎上采用交替游程編碼方法來進一步壓縮測試集，該方法同時考慮測試集游程當中的“0”和“1”，可以顯著減少短游程的數(shù)量，最后以國際標準片上系統(tǒng)芯片電路ITC’02SOCTestBenchmark以及ISCAS’89標準電路中的時序電路為實驗對象，以減小SOC測試時間