基于FPGA的雙相檢頻標(biāo)相位比對(duì)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf_第1頁
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1、隨著當(dāng)代科學(xué)技術(shù)的高速發(fā)展,頻率的檢測(cè)在一些精度要求很高的場(chǎng)合顯得尤其重要,比如天文臺(tái)的授時(shí)系統(tǒng)、高精度的電子儀器儀表設(shè)備。時(shí)間頻率測(cè)量和科學(xué)發(fā)展是相輔相成的關(guān)系,時(shí)間測(cè)量的精準(zhǔn)程度反映了科學(xué)發(fā)展的水平,而科學(xué)技術(shù)的高速發(fā)展又進(jìn)一步促進(jìn)了時(shí)間測(cè)量學(xué)的發(fā)展?,F(xiàn)今社會(huì)對(duì)于信息傳輸和高效處理的要求愈加提高,高精度的時(shí)間測(cè)量技術(shù)的發(fā)展也就愈加得到重視?,F(xiàn)在,長(zhǎng)度、電壓等物理量也可以轉(zhuǎn)換為用時(shí)間測(cè)量的技術(shù)來確定。
  本論文是在基于對(duì)周期性

2、信號(hào)之間相位差變化存在著規(guī)律性的認(rèn)識(shí)基礎(chǔ)上,參照現(xiàn)有的頻標(biāo)比對(duì)技術(shù),創(chuàng)新性的提出了一種基于相位重合脈沖檢測(cè)技術(shù)的雙相檢頻標(biāo)比對(duì)新方法。對(duì)于兩個(gè)頻率值較為接近的信號(hào),通過引入了中介源頻率的方法,使其相位差變寬后,再利用中介源頻率進(jìn)行填充計(jì)數(shù)的方法,同時(shí)對(duì)兩路鑒相脈沖進(jìn)行填充計(jì)數(shù)并根據(jù)計(jì)數(shù)值得到鑒相曲線后,將兩組曲線進(jìn)行組合,巧妙地消除了傳統(tǒng)鑒相曲線中存在的死區(qū)和非線性現(xiàn)象,得到滿周期內(nèi)的無“死區(qū)”高線性鑒相曲線。最后通過測(cè)試證明該方法具有

3、測(cè)量精度高、系統(tǒng)易于實(shí)現(xiàn)、體積小,可靠性高等特點(diǎn)。
  本設(shè)計(jì)的創(chuàng)新之處在于引入了中介源頻率后,兩信號(hào)的相位原本非常窄的差脈寬變得比較寬,這樣利于頻率填充計(jì)數(shù),后經(jīng)數(shù)據(jù)處理程序最終得到0°~360°滿周期的無“死區(qū)”的高線性鑒相曲線;另外,使用中介源頻率分別對(duì)兩路頻率信號(hào)進(jìn)行鑒相并分別取出相位差信號(hào),兩路相位差信號(hào)分別和頻標(biāo)中、被測(cè)同步且都與中介源頻率同步,在取出兩相位差信號(hào)的門時(shí)差后在用中介源頻率對(duì)其進(jìn)行計(jì)數(shù),便可成功的消除電子

4、計(jì)數(shù)器測(cè)頻中普遍存在±1個(gè)字的計(jì)數(shù)誤差。
  在系統(tǒng)的功能實(shí)現(xiàn)方面會(huì)使用到FPGA,也就是現(xiàn)場(chǎng)可編程的邏輯門陣列,代替了分立元件,減小了系統(tǒng)的體積。FPGA是在PAL、GAL、EPLD等可編程器件的基礎(chǔ)上進(jìn)一步發(fā)展的產(chǎn)物,既解決了定制電路的不足,又克服了原有可編程器件門電路數(shù)有限的缺點(diǎn),用Verilog HDL語言編寫的FPGA模塊實(shí)現(xiàn)起來非常方便,而且經(jīng)過簡(jiǎn)單的布局就可以快速燒至FPGA芯片進(jìn)行測(cè)試。在系統(tǒng)的后端仿真,用到了圖形

5、化編程軟件LabVIEW,其根據(jù)FPGA模塊的計(jì)數(shù)值經(jīng)過數(shù)據(jù)數(shù)處理,便得到了預(yù)期的鑒相曲線。LabVIEW是一種程序開發(fā)環(huán)境,由美國(guó)國(guó)家儀器NI開發(fā)研制,其使用圖形化編輯G語言編程,產(chǎn)生的程序是框圖的形式。LabVIEW開發(fā)環(huán)境集成了工程師和科學(xué)家快速構(gòu)建各種應(yīng)用所需的所有工具,旨在幫助工程師和科學(xué)家解決問題、提高生產(chǎn)力和不斷創(chuàng)新。
  基于相位點(diǎn)重合的測(cè)量方法是一種精準(zhǔn)度較高的周期信號(hào)測(cè)量辦法,在有的應(yīng)用場(chǎng)合下,分辨率可達(dá)10p

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