中國(guó)錦屏地下實(shí)驗(yàn)室極低本底裝置屏蔽和氡及子體影響研究.pdf

1、暗物質(zhì)得到了國(guó)際上很多頂尖科學(xué)家的關(guān)注，并且提出了一系列測(cè)量暗物質(zhì)的方法，主要包括：間接法和直接法測(cè)量暗物質(zhì)，然而這些測(cè)量暗物質(zhì)的實(shí)驗(yàn)方法必須在一個(gè)本底非常低的情況下才有可能測(cè)量到暗物質(zhì)，所以世界上有許多實(shí)驗(yàn)組為了給測(cè)量暗物質(zhì)提供良好的測(cè)量環(huán)境都把實(shí)驗(yàn)室從地上搬到地下，這樣做的主要目的是為了屏蔽宇宙射線(xiàn)的干擾。而我國(guó)錦屏地下實(shí)驗(yàn)室正好做到了這一點(diǎn)，本次論文主要研究的是屏蔽體材料及大廳中的氡濃度對(duì)極低本底裝置的影響，本論文研究了以下幾點(diǎn)：

2、
　　(1)本文研究了鉛銅屏蔽體中放射性核素對(duì)極低本底裝置的影響，分別模擬了鉛、銅中238U系、232Tu系、40K對(duì)極低本底裝置的影響；
　　(2)本文通過(guò)使用AlphaGuard電離室測(cè)氡儀測(cè)量了實(shí)驗(yàn)大廳中的氡濃度，探討了在其他條件一致的情況下，通風(fēng)設(shè)備對(duì)實(shí)驗(yàn)大廳中氡濃度的影響，同時(shí)用高純鍺探測(cè)器測(cè)量了低本底裝置中的氡及氡子體的γ射線(xiàn)，探討了實(shí)驗(yàn)大廳氡濃度對(duì)極低本底裝置的影響；
　　(3)根據(jù)高純鍺探測(cè)器探測(cè)出的氡