L、S、X波段矩形開口波導探頭的優(yōu)化研究.pdf

1、矩形開口波導探頭普遍使用于近場掃描測量等領域，作為測量中的核心部件之一，其性能對整個系統(tǒng)的測量精度有著舉足輕重的作用。國外一些機構已經具備了高精度校準Ka及其以下頻段的矩形開口波導探頭的能力，但國內由于種種原因仍達不到要求。本論文的研究課題屬于中國計量科學研究院信電所電磁兼容實驗室的在研項目，旨在通過優(yōu)化探頭自身特性來完善L、S、X波段標準矩形開口波導探頭增益和方向圖校準系統(tǒng)，填補國內相關領域的空白。
　　本文以X波段矩形開口波導

2、探頭為代表，通過CST仿真分析探頭特性，并結合在實際使用遇到的一些問題，總結出矩形波導具有回波損耗較大、口面繞射較強、輻射場強較弱、易受周圍環(huán)境影響等缺點。這些在探頭的校準或者應用中都會降低探頭的精度。為改善這些問題，本文先比較了兩種常見的介質加載的方式:完全加載和E面中心加載介質板，發(fā)現(xiàn)加載效果不甚理想。因此引入了加載錐削型介質這一新的加載方式，通過仿真結合實際測試證明，該加載方式有效的減小了回波損耗，比未加載介質時減小了5dB以上，