開(kāi)關(guān)電源控制芯片可測(cè)性電路的設(shè)計(jì).pdf

1、開(kāi)關(guān)式電源已成為便攜式電子設(shè)備的主要供電電源，其中控制芯片是其核心部件。隨著集成度的不斷提高，控制芯片在制造過(guò)程中引入的故障兒率很高，測(cè)試問(wèn)題變得越來(lái)越復(fù)雜，導(dǎo)致測(cè)試開(kāi)銷在總開(kāi)銷中所占的比例越來(lái)越高。為了快速有效地檢測(cè)控制芯片中的缺陷，同時(shí)降低測(cè)試的成本和周期，需要對(duì)開(kāi)關(guān)電源的可測(cè)性設(shè)計(jì)展開(kāi)研究。
　　本文分析了PSR數(shù)字開(kāi)關(guān)電源控制芯片可測(cè)性技術(shù)的發(fā)展情況及設(shè)計(jì)方法，并結(jié)合開(kāi)關(guān)電源控制芯片自身的特點(diǎn)，提出了一套適用于開(kāi)關(guān)電源控制

2、芯片的測(cè)試方案。接著研究了實(shí)際使用中可能存在的各種干擾，并針對(duì)這些干擾設(shè)計(jì)了切實(shí)有效的濾除干擾措施。為了不增加端口成本，將端口復(fù)用技術(shù)應(yīng)用在開(kāi)關(guān)電源控制芯片的可測(cè)性設(shè)計(jì)中。同時(shí)復(fù)用技術(shù)也應(yīng)用在測(cè)試模式電路設(shè)計(jì)中，利用芯片中現(xiàn)有的電路實(shí)現(xiàn)測(cè)試模式的功能，提高了電路的利用率，減少了測(cè)試電路的面積。此外，論文還研究了降低測(cè)試周期的有效方法。最后根據(jù)一款開(kāi)關(guān)電源控制芯片的測(cè)試指標(biāo)要求，設(shè)計(jì)了一種測(cè)試電路和具體版圖，測(cè)試電路的面積為11869.8