基于SVDD的模擬電路異常檢測(cè)方法研究及應(yīng)用.pdf

1、隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展，電子設(shè)備被廣泛應(yīng)用于航天、醫(yī)療等各種領(lǐng)域。電子設(shè)備的廣泛應(yīng)用使其在復(fù)雜多樣甚至極端的環(huán)境中工作，對(duì)其可靠性要求也日益提高。一旦電子設(shè)備發(fā)生故障，國(guó)家安全和人民生活將會(huì)受到嚴(yán)重的影響，造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失。眾多學(xué)者針對(duì)故障診斷進(jìn)行了深入的研究，模擬電路中的故障是由早期微小的故障逐漸發(fā)展而來(lái)，如果任憑早期故障發(fā)展而不采取措施，必然會(huì)導(dǎo)致電路發(fā)生故障。早期故障和故障都給電路性能和系統(tǒng)特性帶來(lái)很大的影響，將早期故障和故障稱

2、為異常。目前，在模擬電路測(cè)試與診斷中，對(duì)于異常狀態(tài)的研究較少，對(duì)電路中異常情況的檢測(cè)缺乏有效的方法，而傳統(tǒng)的基于多分類的故障診斷方法對(duì)于電路的異常檢測(cè)難以取得理想的效果。
　　本文針對(duì)傳統(tǒng)的故障診斷方法對(duì)于模擬電路異常狀態(tài)檢測(cè)率低的問(wèn)題展開(kāi)研究，重點(diǎn)研究了單類學(xué)習(xí)方法支持向量數(shù)據(jù)描述的理論基礎(chǔ)，使用網(wǎng)格搜索和交叉驗(yàn)證的方法對(duì)影響數(shù)據(jù)描述邊界的兩個(gè)重要參數(shù)懲罰系數(shù)C和核參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，為獲取最能表征電路特性的信息，使用小波變換的方法對(duì)

3、原始數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取。本文將SVDD方法應(yīng)用到模擬電路的異常檢測(cè)中，為充分驗(yàn)證SVDD方法的有效性和通用性，選擇四個(gè)結(jié)構(gòu)復(fù)雜程度不同的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)電路進(jìn)行了仿真實(shí)驗(yàn)和硬件實(shí)驗(yàn)，并將某裝備電源電路板作為研究對(duì)象，將SVDD應(yīng)用到直流電源電路的異常檢測(cè)中。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，SVDD相對(duì)于傳統(tǒng)的故障診斷方法對(duì)電路的異常狀態(tài)的分類準(zhǔn)確率大大提高，而對(duì)比于其他單類學(xué)習(xí)方法Kmeans，對(duì)正常狀態(tài)和異常狀態(tài)都有較好的分類效果。本文中選擇了不同的電路對(duì)象進(jìn)行