基于FPGA的高壓電容測(cè)試平臺(tái)控制系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf

1、由于高壓儲(chǔ)能電容具有存儲(chǔ)電量大、可塑造性好、充電速度快、使用時(shí)不易損壞和維護(hù)簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)，我國(guó)工業(yè)與信息化部把其定為重點(diǎn)發(fā)展的新型元器件。但是由于國(guó)內(nèi)很多儲(chǔ)能電容器生產(chǎn)企業(yè)在電容檢測(cè)方面缺少可靠的測(cè)試裝置，有些指標(biāo)不得不用落后的檢測(cè)設(shè)備測(cè)量，脈沖電容器可調(diào)頻率下壽命試驗(yàn)?zāi)壳吧a(chǎn)廠家尚不能進(jìn)行，而進(jìn)口設(shè)備又價(jià)格昂貴，少數(shù)科研單位根據(jù)各自的條件僅進(jìn)行有限的性能試驗(yàn)，而這些不能代表高壓儲(chǔ)能電容的實(shí)際性能，這嚴(yán)重制約了新型電容器的研究和開發(fā)。本設(shè)

2、計(jì)所研制的測(cè)量平臺(tái)正是為解決對(duì)高壓儲(chǔ)能電容的性能測(cè)試需求而提出的。
　　本課題所設(shè)計(jì)的高壓儲(chǔ)能電容測(cè)試平臺(tái)，可以針對(duì)不同容量的儲(chǔ)能電容器進(jìn)行不同電壓和不同頻率下的重復(fù)充放電試驗(yàn)，并同時(shí)能夠精確測(cè)量瞬變大電流和試驗(yàn)頻率。
　　本設(shè)計(jì)采用恒流充電的方式對(duì)電容進(jìn)行充電，并采用FPGA技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)，從而減小系統(tǒng)核心電路板的規(guī)模，增強(qiáng)系統(tǒng)的可靠性。測(cè)試平臺(tái)采取模塊化設(shè)計(jì)，各模塊之間具有相對(duì)獨(dú)立性，便于測(cè)試平臺(tái)的控制系統(tǒng)根據(jù)產(chǎn)品的規(guī)格升