PI-TiO2納米復(fù)合薄膜熱穩(wěn)定性的研究.pdf

1、將無機納米顆粒加入到聚合物中，通過一定的工藝，可以制作成具有優(yōu)異性能的電介質(zhì)復(fù)合薄膜，其具有良好的力學(xué)、電學(xué)和熱學(xué)等性能，廣泛用于電氣工程和微電子技術(shù)領(lǐng)域。無機物二氧化鈦具有很寬的禁帶寬度，在光、電熱方面，具有很強的紫外線吸收能力，同時其介電常數(shù)和導(dǎo)熱能力也較強，而作為納米尺度的無機顆粒，其物理化學(xué)性能也非常優(yōu)異，因此，以聚酰亞胺為基體的納米復(fù)合薄膜具有優(yōu)良的性能，獲得了廣泛的關(guān)注。在聚酰亞胺基體中加入無機納米材料，可以顯著的提高復(fù)合薄

2、膜的耐電暈老化能力，同時也可提升高擊穿場強和介電常數(shù)等性能，這些現(xiàn)象已得到了很多學(xué)者的研究證明，其理論比較完善，但是對于復(fù)合薄膜的熱學(xué)性能，其研究較少，本文主要目的為研究復(fù)合薄膜的熱學(xué)性能，并且對其機理進行分析和研究。
　　本文采用原位聚合法制備不同組分的PI/TiO2復(fù)合薄膜，其薄膜厚度約為30微米。TiO2組分分別為0％、5%、10%、15%、20%。通過光學(xué)電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡研究復(fù)合薄膜的微觀形貌；采用差熱熱重分析儀

3、、電暈老化設(shè)備研究薄膜的熱穩(wěn)定性和電暈老化壽命。通過分析實驗數(shù)據(jù)，研究納米TiO2組分對復(fù)合薄膜熱穩(wěn)定性和電暈老化壽命的影響，進而分析其影響機理及規(guī)律。
　　實驗結(jié)果證明，納米TiO2顆粒增加了薄膜的熱穩(wěn)定性，5%組分的復(fù)合薄膜失重10%和50%時的溫度分別較純膜提高了19.3℃和20.7℃。復(fù)合薄膜的DTA曲線峰頂溫度均高于純膜，5%組分薄膜峰頂溫度為637.8℃，較純膜提升了40.1℃，隨著組分的增加，DTA曲線反應(yīng)峰峰型逐漸