電子散斑干涉圖像濾波方法研究及在動態(tài)熱變形中的應(yīng)用.pdf

1、電子散斑干涉測量（Electronic speckle pattern interferometery簡寫為ESPI）技術(shù)是一種全場、非接觸的現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)，被廣泛應(yīng)用于光學(xué)粗糙表面位移、變形測量、無損檢測和振動分析等領(lǐng)域。電子散斑干涉測量以條紋圖或相位圖的形式為輸出，然而條紋圖或相位圖存在大量的散斑噪聲，為了得到精確的相位分布,去噪成了電子散斑干涉測量技術(shù)的關(guān)鍵步驟。本文主要在相位圖和條紋圖去噪方面做了研究，并且將研究結(jié)果應(yīng)用于動態(tài)

2、電子散斑干涉熱變形測量上。
　　本文首先對傅里葉變換域的濾波方法做了分析和討論，根據(jù)已有算法的優(yōu)缺點，提出了局域傅里葉變換濾波方法。該方法不僅克服了全局傅里葉變換難以選擇截止頻率的缺點，而且與窗傅里葉變換方法相比，局域傅里葉變換濾波方法取決于較少的參數(shù)，使用起來簡便。
　　其次，本文討論了經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解算法。針對電子散斑干涉條紋圖的特點提出了改進(jìn)的二維經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解算法，主要在三個方面做了改進(jìn)：
　?。?）極值點的選?。?

3、br>　　（2）將徑向基函數(shù)插值方法應(yīng)用到上下包絡(luò)面擬合中；
　　（3）將中值濾波的邊緣保持作用應(yīng)用到該算法中。
　　該方法是一種多尺度全局?jǐn)?shù)據(jù)驅(qū)動方法，不需要各種變換和截止頻率，參數(shù)少，使用方便。
　　最后，將本文提出的兩種算法分別和已有的多種方法做了比較，應(yīng)用在了計算機模擬的和實驗得到的ESPI圖像濾波中。并且將改進(jìn)后的二維經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解算法應(yīng)用到動態(tài)電子散斑干涉熱變形圖的濾波中。實驗結(jié)果展示了局域傅里葉變換方法的性