射頻消融治療ICD術(shù)后電風(fēng)暴的療效分析.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩49頁未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、目的:
  射頻導(dǎo)管消融治療已成為治療植入型心律轉(zhuǎn)復(fù)除顫器(implantable cardioverter defibrillator,ICD)術(shù)后電風(fēng)暴的重要手段。本文通過回顧性分析在本院接受導(dǎo)管射頻消融的22例ICD術(shù)后電風(fēng)暴患者的手術(shù)方式及隨訪結(jié)果探討導(dǎo)管射頻消融的療效與安全性。
  方法:
  研究對象為2012年12月至2016年1月的22例在南方醫(yī)科大學(xué)珠江醫(yī)院因ICD術(shù)后電風(fēng)暴行射頻消融術(shù)住院患者,部分

2、患者植入器械為心臟再同步化治療-除顫器(CRT-D),需排除術(shù)中或程控證實(shí)引起ICD/CRT-D治療的病因?yàn)榉鞘宜?室顫患者。1例術(shù)前考慮左室流出道特發(fā)性室速,行激動(dòng)標(biāo)測和起搏標(biāo)測。其余21例均于竇性心律下先于心內(nèi)膜面行電壓標(biāo)測。同時(shí)尋找局部異常電位。如電壓標(biāo)測提示無低電壓區(qū),則結(jié)合激動(dòng)標(biāo)測及起搏標(biāo)測尋找靶點(diǎn),如仍無理想靶點(diǎn),則建立心外膜通路行電壓標(biāo)測、激動(dòng)及起搏標(biāo)測。所有患者消融前均行程序刺激嘗試誘發(fā)臨床室速。如電壓標(biāo)測出明顯低電壓區(qū)

3、域,并結(jié)合起搏標(biāo)測確定室速與低電壓區(qū)相關(guān),則不尋找緩慢傳導(dǎo)區(qū)或關(guān)鍵峽部,對低電壓區(qū)域行基質(zhì)改良,重點(diǎn)消融低電壓區(qū)局部異常電位區(qū)域。如無低電壓區(qū)域,則對起搏及激動(dòng)標(biāo)測下理想靶點(diǎn)進(jìn)行消融。所有消融方式終點(diǎn)均為多點(diǎn)心室程序刺激及靜脈滴注異丙腎上腺素均不能誘發(fā)心動(dòng)過速。術(shù)后所有患者行起搏器程控及電話隨訪。
  結(jié)果:
  患者男20例、女2例,年齡(53.39±13.99)歲。其中擴(kuò)張性心肌病6例,缺血性心肌病6例,Brugada綜

4、合征2例,致心律失常右室心肌病3例,心肌致密化不全1例,無明確結(jié)構(gòu)性心臟病4例。消融術(shù)前1周發(fā)作室速(14.5±14.9)次,接受ICD/CRT-D治療次數(shù)(9.3±9.9)次。單純行心內(nèi)膜標(biāo)測患者為16例,心內(nèi)膜結(jié)合心外膜標(biāo)測為6例,共進(jìn)行26次手術(shù)。術(shù)中消融所有室速者共22例,消融臨床室速但能誘發(fā)非持續(xù)性室速者為1例,術(shù)后仍能誘發(fā)臨床室速為3例,19例患者于心內(nèi)膜及(或)心外膜標(biāo)測到低電壓去區(qū)域,行基質(zhì)改良。消融即刻完全成功率為84

5、.6%(22/26),部分成功率為3.9%(1/26),失敗率為11.5%(3/26),手術(shù)即刻總體有效率為88.5%(23/26)。末次術(shù)后隨訪(21.6±12.1)月,室性心動(dòng)過速復(fù)發(fā)5例,其中心室電風(fēng)暴發(fā)作4例,1例雖發(fā)作室速但未進(jìn)展為心室電風(fēng)暴的患者為室速頻率下降未觸發(fā)ICD抗心動(dòng)過速治療。隨訪期間4例患者死亡,3例與電風(fēng)暴再發(fā)相關(guān);另1例患者因呼吸衰竭死亡,隨訪至死亡無室速及電風(fēng)暴再發(fā)。導(dǎo)管消融遠(yuǎn)期完全成功率、部分成功率及失敗

6、率分別為77.3%(17/22)、4.5%(1/22)及18.2%(4/22),總體有效率為81.8%(18/22)。所有患者術(shù)中、術(shù)后未出現(xiàn)心包填塞等嚴(yán)重并發(fā)癥。
  結(jié)論:
  1.導(dǎo)管射頻消融是治療ICD術(shù)后電風(fēng)暴的一種安全有效的方法,能顯著減少電風(fēng)暴及室速的發(fā)作。2.低電壓區(qū)及局部異常電位的存在是器質(zhì)性心臟病及遺傳性離子通道病電風(fēng)暴發(fā)作的基礎(chǔ),低電壓區(qū)基質(zhì)改良為消融成功的最重要保證。3.心內(nèi)膜消融無法根治的頑固性室速

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論