微電阻率掃描成像測(cè)井資料采集及處理解釋.pdf

1、隨著石油天然工業(yè)的發(fā)展，油氣勘探難度越來越大，測(cè)井技術(shù)面臨許多地質(zhì)和工程方面的難題，這些難題有：低電阻率砂巖油氣層、礫巖油氣層復(fù)雜巖性裂縫性油氣層、碳酸巖裂縫性油氣層、火成巖裂縫性油氣層、泥巖裂縫性油氣層等等。而地層微電阻率掃描測(cè)井在解決這些難題上具有其它測(cè)井方法所不可比擬的優(yōu)點(diǎn)。 地層微電阻率掃描測(cè)井是九十年代測(cè)井成像技術(shù)的典型代表，具有極高的采樣率和分辯率。微電阻率圖象可以直觀顯示出井壁地層的微細(xì)變化，可對(duì)組成地層巖石的類型

2、、巖石結(jié)構(gòu)、沉積構(gòu)造、裂縫等特征進(jìn)行精細(xì)的描述。特別是能夠有效地指示裂縫的位置、傾角、傾向、走向、類型等特征。因而微電阻率掃描成像測(cè)井圖對(duì)于提供井下地層資料，分析和評(píng)價(jià)油氣藏具有重要的作用。為此大慶測(cè)井公司引進(jìn)了目前世界上技術(shù)水平最高的微電阻率掃描成像測(cè)井儀—EMI（哈里伯頓公司）及STAR(阿特拉斯公司）。為了在實(shí)際應(yīng)用中更好的使用這種儀器采集數(shù)據(jù)，以及對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理解釋，我們主要做了以下幾方面的工作： 1．在數(shù)據(jù)采集

3、方面主要有：現(xiàn)場(chǎng)刻度規(guī)范；質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)；在實(shí)際應(yīng)用中，針對(duì)不同的環(huán)境條件，確定適合的方法及參數(shù)。 2．在資料處理方面主要有：成像測(cè)井解釋軟件的應(yīng)用；對(duì)采集到的測(cè)井資料的預(yù)處理；微電阻率掃描測(cè)井的成像處理。 3．解釋方法研究方面：圖象解釋的一般原則及標(biāo)準(zhǔn)成像模式的建立；解釋中圖象的識(shí)別及成因分析；裂縫的識(shí)別。 4．在綜合地質(zhì)應(yīng)用方面：開展了深層火山巖巖相噴溢期次的研究；對(duì)芳深9井區(qū)CO2氣藏的解釋；成像資料在確定井