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  • <em>HfO2</em>薄膜微結(jié)構(gòu)及電學(xué)性能研究.pdf73

    <em>HfO2</em>薄膜微結(jié)構(gòu)及電學(xué)性能研究.pdf HfO2薄膜微結(jié)構(gòu)及電學(xué)性能研究.pdf(73頁)

    集成電路的飛速發(fā)展促使半導(dǎo)體材料和工藝不斷更新?lián)Q代對于MOS器件柵極介質(zhì)材料也提出了更高的要求傳統(tǒng)的SIO2柵極氧化層已逐漸不能適合工藝需求高K氧化物材料成為這一領(lǐng)域的熱門研究方向。本文以高K柵氧化物作為應(yīng)用背景通過射頻反應(yīng)磁控濺射的方法以氧氣通量、濺射時...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 樹葉的顫動 / 發(fā)布時間:2024-03-09 / 6人氣

  • 基于<em>HfO2</em>的RRAM阻變特性研究.pdf62

    基于<em>HfO2</em>的RRAM阻變特性研究.pdf 基于HfO2的RRAM阻變特性研究.pdf(62頁)

    由于以FLASH為代表的傳統(tǒng)存儲器遇到了技術(shù)瓶頸,人們提出了許多新型存儲器,其中阻變存儲器(RRAM)憑借著其簡單的結(jié)構(gòu)、低壓低功耗、操作速度快、可伸縮性并且它與傳統(tǒng)COMS工藝技術(shù)兼容等優(yōu)點(diǎn),從而成為人們的研究焦點(diǎn)。然而目前對于RRAM存儲器阻變現(xiàn)象的微觀機(jī)制解...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 空寄語 / 發(fā)布時間:2024-03-05 / 15人氣

  • 摻鎳納米微粒<em>HfO2</em>薄膜的電荷存儲特性.pdf47

    摻鎳納米微粒<em>HfO2</em>薄膜的電荷存儲特性.pdf 摻鎳納米微粒HfO2薄膜的電荷存儲特性.pdf(47頁)

    0010碩士學(xué)位論文碩士學(xué)位論文摻鎳納米微粒摻鎳納米微粒HFO2薄膜的電荷存儲特性薄膜的電荷存儲特性論文作者朱華星指導(dǎo)教師邱曉燕副教授學(xué)科專業(yè)凝聚態(tài)物理研究方向納米薄膜存儲器件制備與性能提交論文日期2016年4月20日論文答辯日期2016年6月4日學(xué)位授予單位西南大學(xué)...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 你曾對我言 / 發(fā)布時間:2024-03-09 / 6人氣

  • 基于<em>HfO2</em>電荷俘獲層氧缺陷存儲特性研究.pdf96

    基于<em>HfO2</em>電荷俘獲層氧缺陷存儲特性研究.pdf 基于HfO2電荷俘獲層氧缺陷存儲特性研究.pdf(96頁)

    半導(dǎo)體器件尺寸隨著制造工藝和集成電路技術(shù)迅速發(fā)展而持續(xù)的等比例縮小,隧穿氧化層厚度也隨之不斷減薄,致使泄漏電流增大存儲單元間隔不斷減小,浮柵與控制柵間耦合降低,導(dǎo)致相鄰浮柵串?dāng)_增強(qiáng),傳統(tǒng)浮柵結(jié)構(gòu)的非揮發(fā)性存儲器難以達(dá)到對存儲器保持特性的要求,故難...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 善惡無定 / 發(fā)布時間:2024-03-09 / 15人氣

  • 摻鎳納米微粒<em>hfo2</em>薄膜的電荷存儲特性47

    摻鎳納米微粒<em>hfo2</em>薄膜的電荷存儲特性 摻鎳納米微粒hfo2薄膜的電荷存儲特性(47頁)

    0010碩士學(xué)位論文碩士學(xué)位論文摻鎳納米微粒摻鎳納米微粒HFO2薄膜的電荷存儲特性薄膜的電荷存儲特性論文作者朱華星指導(dǎo)教師邱曉燕副教授學(xué)科專業(yè)凝聚態(tài)物理研究方向納米薄膜存儲器件制備與性能提交論文日期2016年4月20日論文答辯日期2016年6月4日學(xué)位授予單位西南大學(xué)...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: admin / 發(fā)布時間:2024-03-12 / 5人氣

  • Ir表面<em>HfO2</em>涂層的制備及其性能研究.pdf88

    Ir表面<em>HfO2</em>涂層的制備及其性能研究.pdf Ir表面HfO2涂層的制備及其性能研究.pdf(88頁)

    CC復(fù)合材料高溫強(qiáng)度高、密度低,適合應(yīng)用于高超聲速飛行器的翼前緣和鼻錐,但是其在高溫有氧環(huán)境會發(fā)生氧化失效。IR熔點(diǎn)很高、氧滲透率極低,是CC復(fù)合材料很好的抗氧化耐高溫防護(hù)陶瓷涂層。但是,IR涂層熱輻射率低,輻射冷卻效果較差,在氣動加熱情況下,較低工況時...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 對的事 / 發(fā)布時間:2024-03-09 / 2人氣

  • <em>HfO2</em>晶體結(jié)構(gòu)及鐵電性質(zhì)產(chǎn)生機(jī)理.pdf70

    <em>HfO2</em>晶體結(jié)構(gòu)及鐵電性質(zhì)產(chǎn)生機(jī)理.pdf HfO2晶體結(jié)構(gòu)及鐵電性質(zhì)產(chǎn)生機(jī)理.pdf(70頁)

    作為代表性的高K材料,氧化鉿HFO2已被廣泛應(yīng)用于微電子工業(yè)。最近采用特殊工藝制備的摻雜HFO2薄膜被發(fā)現(xiàn)具有明顯的鐵電性質(zhì)。新型鐵電材料與硅基CMOS集成電路工藝良好的兼容性對于集成鐵電學(xué)的發(fā)展具有重要意義,預(yù)期將帶來鐵電存儲器研究的新突破。與鈣鈦礦型鐵電材...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 月圓了殘 / 發(fā)布時間:2024-03-09 / 27人氣

  • Si摻雜<em>HfO2</em>的晶格結(jié)構(gòu)和熱學(xué)性質(zhì)研究.pdf64

    Si摻雜<em>HfO2</em>的晶格結(jié)構(gòu)和熱學(xué)性質(zhì)研究.pdf Si摻雜HfO2的晶格結(jié)構(gòu)和熱學(xué)性質(zhì)研究.pdf(64頁)

    20世紀(jì)60年代,戈登摩爾博士提出了著名的摩爾定律,即集成電路的特征尺寸每三年縮小07倍,集成度每三年增長四倍。四十年來,集成電路產(chǎn)業(yè)一直遵循該定律所預(yù)言的速度發(fā)展,CMOS器件尺寸的不斷縮小,集成度不斷提高,二氧化硅柵介質(zhì)層的厚度也需要相應(yīng)下降,但受量子...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 熱吻柔骨 / 發(fā)布時間:2024-03-10 / 5人氣

  • 應(yīng)變MOS的<em>HfO2</em>柵界面特性和輻照效應(yīng)研究.pdf95

    應(yīng)變MOS的<em>HfO2</em>柵界面特性和輻照效應(yīng)研究.pdf 應(yīng)變MOS的HfO2柵界面特性和輻照效應(yīng)研究.pdf(95頁)

    應(yīng)變和高K柵技術(shù)都是延續(xù)摩爾定理的重要手段,將兩種技術(shù)相結(jié)合,不僅可以有效地提高集成電路的工作速度,還可以降低柵電流引起的靜態(tài)功耗等問題,是提升集成電路性能的有效途徑。同時,隨著應(yīng)變器件與電路應(yīng)用范圍的擴(kuò)展,其輻照特性也越來越受到關(guān)注,成為了新的研...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 你的 / 發(fā)布時間:2024-03-09 / 9人氣

  • 遠(yuǎn)程等離子體輔助原子層沉積技術(shù)制備<em>HfO2</em>薄膜及<em>HfO</em><em>2</em>-Ge界面性質(zhì)研究.pdf70

    遠(yuǎn)程等離子體輔助原子層沉積技術(shù)制備<em>HfO2</em>薄膜及<em>HfO</em><em>2</em>-Ge界面性質(zhì)研究.pdf 遠(yuǎn)程等離子體輔助原子層沉積技術(shù)制備HfO2薄膜及HfO2-Ge界面性質(zhì)研究.pdf(70頁)

    隨著器件等比例縮小難度和成本的不斷增加,以SI作為溝道材料SIO2作為柵介質(zhì)的傳統(tǒng)CMOS發(fā)展接近物理極限,高K介質(zhì)HFO2柵高遷移率GE溝道MOSFET成為未來CMOS集成電路技術(shù)發(fā)展的潛在選擇之一。然而METALHFO2GE結(jié)構(gòu)MOS器件存在界面態(tài)密度高、柵極漏電流大等問題,因此研究...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 你就要錯過我 / 發(fā)布時間:2024-03-09 / 5人氣

  • 感光<em>HfO2</em>凝膠薄膜的性能研究及微細(xì)圖形化.pdf66

    感光<em>HfO2</em>凝膠薄膜的性能研究及微細(xì)圖形化.pdf 感光HfO2凝膠薄膜的性能研究及微細(xì)圖形化.pdf(66頁)

    二氧化鉿以其良好的力學(xué)、電學(xué)、熱學(xué)和光學(xué)性能而被廣泛地應(yīng)用于機(jī)械、電子、航空、航天和軍事等領(lǐng)域。特別是HFO2薄膜良好的光學(xué)性能和高的激光損傷閾值,使得其用作強(qiáng)激光系統(tǒng)和慣性約束聚變的光學(xué)薄膜元件時,具有重要的應(yīng)用前景。本研究以四氯化鉿為前驅(qū)體,選擇...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 芳心盡攬 / 發(fā)布時間:2024-03-09 / 5人氣

  • 單斜相<em>HfO2</em>納米粉末的非水溶液法合成及其磁學(xué)特性研究.pdf112

    單斜相<em>HfO2</em>納米粉末的非水溶液法合成及其磁學(xué)特性研究.pdf 單斜相HfO2納米粉末的非水溶液法合成及其磁學(xué)特性研究.pdf(112頁)

    隨著信息技術(shù)的發(fā)展,納米HFO2(納米膜及納米粉體)成為近年來科學(xué)前沿一個非?;钴S的研究領(lǐng)域。本文采用“自下而上”的非水溶液法制備了不同形貌的單斜相HFO2納米粉末,成功探索出了幾種操作簡單、成本低廉、尺寸和形貌均一的制備HFO2納米粉末的方法“注射法”、“...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 滿腹惆悵 / 發(fā)布時間:2024-03-09 / 2人氣

  • 襯底溫度及Gd摻雜對<em>HfO2</em>薄膜結(jié)構(gòu)與性能的影響.pdf52

    襯底溫度及Gd摻雜對<em>HfO2</em>薄膜結(jié)構(gòu)與性能的影響.pdf 襯底溫度及Gd摻雜對HfO2薄膜結(jié)構(gòu)與性能的影響.pdf(52頁)

    本論文采用反應(yīng)射頻磁控濺射技術(shù)制備了一系列不同襯底溫度的HFO2薄膜及不同GD摻雜量的HFGDO薄膜,其中對于HFGDO薄膜,通過改變GD靶材的數(shù)量來調(diào)節(jié)薄膜中GDHFGD原子比其值介于072%。采用電子探針顯微鏡EPMA、X射線衍射XRD分析儀、原子力顯微鏡AFM、紫外可見光分光光...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 談笑 / 發(fā)布時間:2024-03-10 / 4人氣

  • 射頻磁控濺射<em>HfO2</em>薄膜的電學(xué)特性及室溫弱鐵磁性研究.pdf54

    射頻磁控濺射<em>HfO2</em>薄膜的電學(xué)特性及室溫弱鐵磁性研究.pdf 射頻磁控濺射HfO2薄膜的電學(xué)特性及室溫弱鐵磁性研究.pdf(54頁)

    隨著硅基半導(dǎo)體集成電路集成度的迅猛提高,其基本組成單元金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管MOSFETS的溝道長度已縮短到45NM。根據(jù)ITRSROADMAP2009年公布的發(fā)展規(guī)劃,在采用新結(jié)構(gòu)、引入新材料的前提下,MOSFETS將在2020年進(jìn)入14NM技術(shù)時代。為保持其高的柵極電容,原有的...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 想把你抱緊 / 發(fā)布時間:2024-03-10 / 7人氣

  • 感光溶膠凝膠法制備<em>HfO2</em>和ZrO<em>2</em>微細(xì)圖形的研究.pdf70

    感光溶膠凝膠法制備<em>HfO2</em>和ZrO<em>2</em>微細(xì)圖形的研究.pdf 感光溶膠凝膠法制備HfO2和ZrO2微細(xì)圖形的研究.pdf(70頁)

    西安理工大學(xué)碩士學(xué)位論文

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 布丁 / 發(fā)布時間:2024-03-09 / 4人氣

  • ⅣB族金屬氧化物<em>HfO2</em>和ZrO<em>2</em>薄膜的制備、表征和性質(zhì)研究.pdf60

    ⅣB族金屬氧化物<em>HfO2</em>和ZrO<em>2</em>薄膜的制備、表征和性質(zhì)研究.pdf ⅣB族金屬氧化物HfO2和ZrO2薄膜的制備、表征和性質(zhì)研究.pdf(60頁)

    本文的主要內(nèi)容是金屬氧化物薄膜HFO2和ZRO2的制備及相應(yīng)的樣品表征和性質(zhì)研究。我們摸索發(fā)展了一種制備HFO2和ZRO2的薄膜的新方法利用等離子體輔助反應(yīng)脈沖激光沉積的方法進(jìn)行樣品的制備。主要研究了薄膜的光學(xué)性質(zhì)及電學(xué)性質(zhì)對薄膜的結(jié)構(gòu)及界面性質(zhì)、薄膜的光學(xué)常數(shù)...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 虞姬 / 發(fā)布時間:2024-03-09 / 6人氣

  • Si摻雜<em>HfO2</em>鐵電薄膜的可靠性研究.pdf72

    Si摻雜<em>HfO2</em>鐵電薄膜的可靠性研究.pdf Si摻雜HfO2鐵電薄膜的可靠性研究.pdf(72頁)

    碩士學(xué)位論文SI摻雜HF02鐵電薄膜的可靠性研究STUDYOFTHERELIABILITYCHARACTERISTICSFORSIDOPEDHF02FERROELECTRICTHINFILMS學(xué)21305053完成日期大連理工大學(xué)DALIANUNIVERSITYOFTECHNOLOGY摘要將鐵電薄膜材料與硅基半導(dǎo)體集成工藝相結(jié)合而發(fā)展起來的鐵電存儲器具有非易...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 回頭 / 發(fā)布時間:2024-03-09 / 6人氣

  • 超薄<em>HfO2</em>柵MOS結(jié)構(gòu)C-V和I-V模擬.pdf49

    超薄<em>HfO2</em>柵MOS結(jié)構(gòu)C-V和I-V模擬.pdf 超薄HfO2柵MOS結(jié)構(gòu)C-V和I-V模擬.pdf(49頁)

    浙江師范大學(xué)2008級碩士學(xué)位論文超薄HF02柵MOS結(jié)構(gòu)CV和IV模擬MODELINGOFCAPACITF6心寸CEVOLTAGEANDTI_NNEL玎NGCURRENTOFMOSSTRUCTUREWITHULTRATHINHF02GATEDIELECTRIC作者胡波指導(dǎo)教師黃仕華浙江師范大學(xué)數(shù)理與信息工程學(xué)院2011年4月6日超薄HF02柵MOS結(jié)構(gòu)CV和IV模擬...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 一味猛藥 / 發(fā)布時間:2024-03-06 / 10人氣

  • 外文翻譯--超薄<em>hfo2</em>薄膜納米劃痕測試的力學(xué)性能研究13
  • Si83Ge17-Si基底上<em>HfO2</em>薄膜的介電性能與納米磁性.pdf82

    Si83Ge17-Si基底上<em>HfO2</em>薄膜的介電性能與納米磁性.pdf Si83Ge17-Si基底上HfO2薄膜的介電性能與納米磁性.pdf(82頁)

    隨著巨大規(guī)模集成電路GSI的問世其基本組成單元補(bǔ)償性金屬氧化物一半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管CMOSFETS的溝道長度已經(jīng)縮短至32NM并正向22NM邁進(jìn)。為了保持足夠大的驅(qū)動電流和高的柵極電容傳統(tǒng)SIO2SIOXNY柵介質(zhì)層厚度也隨之減薄。但當(dāng)其厚度減小至<1NM時量子隧穿效應(yīng)導(dǎo)致的柵...

    下載價格:5 賞幣 / 發(fā)布人: 回到過去 / 發(fā)布時間:2024-03-10 / 14人氣

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