電子工程外文翻譯--一種自校驗rs編碼器的分析和設計（譯文）

1、中文 中文 4600 字 文獻出處： 文獻出處：Cardarilli G C, Pontarelli S, Re M, et al. A Self Checking Reed Solomon Encoder: Design and Analysis[C]// IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems. IEEE Computer

2、 Society, 2005:111- 119.畢業(yè)設計（論文）外文文獻翻譯 畢業(yè)設計（論文）外文文獻翻譯畢 業(yè) 設 計 （ 論 文 ） 題 目翻譯題目 翻譯題目 一種自校驗 一種自校驗 RS RS 編碼器的分析和設計 編碼器的分析和設計系 電子工程 電子工程專 業(yè) 電子信息科學與技術 電子信息科學與技術姓 名班 級學 號指導教師 指導教師的器件容易受到外界的干擾而產生出的新現象。其中的一項重要因 素是電磁輻射對

3、硅器件的影響。高能粒子在穿越器件的過程中可以給器件注入電荷，這些電荷由于具有電極性而能夠到達有源器件并對它們造成影響。這些被稱為單粒子翻轉的現象在太空環(huán)境的應用場合得到了極大的研究。單粒子翻轉在海洋探測和航空設備中被觀察。當今，使用最為廣泛的糾錯碼是基于有限時域算法的RS 碼。我們提出使用這種方法能在編碼方面產生的錯誤以使具有這種算法結構的電路具有自我校驗功能。這種電路結構通過 FPGA 實現，我們提出的想法通過這種電路實現。論文是這樣

4、組織的：第二節(jié)描述用于 FPGA 中的模式的故障，第三節(jié)說明了 RS 碼使用的背景，第四節(jié)介紹了關于 RS 編碼器的算術結構的屬性。在第五節(jié)擬提出自檢 RS 編碼器架構。而在第六節(jié)提出了一些面積和延遲的評估。最后，在第七節(jié)給出結論。一種基于 FPGA 的 SRAM 的單粒子翻轉的故障建模概述在本節(jié)介紹。提出錯誤的根據是最近提出的建模方法中的使用。一個典型的基于 FPGA 的 SRAM 基本組成是由一個個 CLB 陣列（復雜邏輯塊）。單粒

5、子翻轉可以影響無論是 FPGA 或使用應用程序的內存的元素配置的應用程序的使用壽命。因此，單粒子翻轉在 FPGA 上的影響可以劃分如下：1）在寄存器單粒子翻轉：2）單粒子翻轉中的 LUT：3）路由配置內存單粒子翻轉：在一個存儲單元 CLB 的單粒子翻轉可以被看作是一個位翻轉，改變了觸發(fā)器中存儲的位（從 1 到 0 或從 0 到 1）。變化中的 LUT 的單粒子翻轉的功能提供了組合運作。當存儲單元的一個單粒子翻轉的影響是由輸入信號處理所提