Mg-ZK60層狀復(fù)合板材的組織觀察與性能研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩90頁未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、本文通過采用累積疊軋(ARB)對軋制態(tài)純Mg與ZK60鎂合金在150℃至300℃的溫度范圍及25%至50%壓下量范圍進(jìn)行了不同道次的ARB劇烈塑性變形。采用光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡研究了軋制態(tài)純Mg及ZK60鎂合金ARB變形前后的顯微組織變化;采用背散射電子衍射(EBSD)對ARB變形前后Mg及ZK60鎂合金的織構(gòu)演變進(jìn)行了分析,并對ARB變形前后復(fù)合板材的室溫拉伸性能及顯微硬度進(jìn)行了測試,采用動(dòng)態(tài)機(jī)械分析儀(DMA)

2、對軋制態(tài)純Mg與ZK60鎂合金及ARB變形后的復(fù)合板材進(jìn)行了不同頻率的阻尼性能測試。
  軋制態(tài)純Mg與ZK60的起始晶粒尺寸分別約為37μm和11μm,經(jīng)低溫1道次ARB變形后可分別細(xì)化到18μm與2μm,組織很不均勻且有大量孿晶,隨著溫度升高,再結(jié)晶比例逐漸增大,晶粒變化不明顯;隨著ARB道次升高,晶粒尺寸變化不大,但組織均勻性得到提高。與軋制態(tài)Mg和ZK60相比,ARB變形后的強(qiáng)度與延伸率均介于二者之間,并且隨道次增加,復(fù)合

3、板材的強(qiáng)度和Mg及ZK60層的硬度得到提高,但延伸率有所下降,這主要是晶粒細(xì)化和ARB變形過程中織構(gòu)的變化所致。
  對Mg/ZK60復(fù)合板材的界面研究表明,隨著軋制溫度的升高,界面結(jié)合狀況逐漸得到改善;隨著壓下量的增加,界面結(jié)合強(qiáng)度逐漸上升;隨著道次的增加,前一道次引入的界面結(jié)合得到加強(qiáng),并且退火可以明顯的改善復(fù)合板材界面結(jié)合強(qiáng)度。界面結(jié)合的好壞主要取決于原子的擴(kuò)散能力及板材的塑性變形能力。通過SEM觀察還發(fā)現(xiàn)隨道次的增加Mg層

4、發(fā)生明顯頸縮且呈現(xiàn)出波浪形態(tài)。通過EBSD測試發(fā)現(xiàn)ARB變形后{0001}基面逐漸平行于軋面,并且由于Mg層呈現(xiàn)的波浪形狀使得3道次板材Mg層與ZK60層的基面織構(gòu)均向RD方向發(fā)生偏轉(zhuǎn)。
  對Mg/ZK60復(fù)合板材的阻尼-應(yīng)變譜研究表明:相同軋制工藝下純Mg板材的阻尼性能遠(yuǎn)優(yōu)于ZK60板,并且相同厚度情況下的復(fù)合板材阻尼值均介于兩者之間;隨著溫度的升高M(jìn)g/ZK60雙層復(fù)合板材的阻尼值逐漸上升;在250℃下隨著道次壓下量的復(fù)合板

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論