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文檔簡介
1、行波管以其獨特的性能優(yōu)勢被廣泛地應(yīng)用于電子對抗系統(tǒng)中。它的性能很大程度上取決于其內(nèi)部夾持桿上衰減涂層的軸向衰減分布規(guī)律。
本課題所設(shè)計的測試系統(tǒng)能對X和Ku波段的行波管夾持桿上衰減涂層的軸向衰減分布規(guī)律進(jìn)行測試。利用測試系統(tǒng)的測試結(jié)果,我們可以有效地提高行波管的性能。本測試系統(tǒng)由微波系統(tǒng)、測試軟件和硬件三部分組成。硬件部分主要包括工控機(jī)、采集卡、時序控制卡、步進(jìn)電機(jī)和傳動裝置。本文研制的時序控制卡包括數(shù)字和模擬電路兩部分。數(shù)字
2、電路部分采用FPGA(Field Programmable Gate Array,現(xiàn)場可編程門陣列)實現(xiàn)。FPGA采用了邏輯單元陣列(LCA, Logic Cell Array)這樣一個新概念,內(nèi)部由可配置邏輯模塊(CLB, Configurable Logic Block)、輸入輸出模塊(IOB, Input Output Block)和內(nèi)部連線(Interconnect)三個部分組成。本課題中,基于寫入FPGA芯片里的時序控制代碼,
3、時序控制卡一旦得到上位機(jī)送來的啟動信號,便能準(zhǔn)確地為測試系統(tǒng)中的頻率綜合器、步進(jìn)電機(jī)、采集卡等三個關(guān)鍵設(shè)備提供控制信號,以完成對它們工作時序的控制。
時序控制卡的模擬電路部分包括8路獨立的電路通道,其中6路用來完成對進(jìn)入采集卡的前端信號的放大和濾波。另外2路用來與時序卡外、測試系統(tǒng)中的電調(diào)衰減器和檢波器組成ALC(Auto Level Control,自動穩(wěn)幅控制)回路,以改善測試源和測試傳感器的匹配性能(指標(biāo)的基礎(chǔ)上),使X
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