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文檔簡介
1、DAC的主要測試參數(shù)包括靜態(tài)參數(shù)(DNL，INL等)和動態(tài)參數(shù)(SNR，THD，SINAD，SFDR等)，高精度的DAC分別要求測試設(shè)備的電壓分辨率和動態(tài)范圍應(yīng)該覆蓋超過芯片參數(shù)本身；當(dāng)要求不能滿足時，測試得到的是設(shè)備自身精度而非芯片的參數(shù)，結(jié)果的準(zhǔn)確性便得不到保證。
本課題主要的研究的預(yù)期思路是從現(xiàn)有的16位高精度D/A數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換芯片的測試入手，對于靜態(tài)參數(shù)，通過對每個數(shù)字輸入碼的對應(yīng)模擬輸出施加不同臺階電平，并用高精度差分電
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