環(huán)境綜合應(yīng)力作用下航天電連接器可靠性分析與建模.pdf

1、該文以Y11X系列圓形電連接器為研究對(duì)象,對(duì)電連接器失效模式、失效機(jī)理和可靠性建模進(jìn)行了系統(tǒng)、深入的研究.首先,介紹了國內(nèi)外可靠性研究的發(fā)展歷史和現(xiàn)狀;其次,通過對(duì)現(xiàn)場、試驗(yàn)場電連接器的失效情況進(jìn)行統(tǒng)計(jì)和分析,總結(jié)出電連接器的四種主要失效模式:電接觸失效、絕緣失效、機(jī)械連接失效和其他失效,并對(duì)電連接器進(jìn)行了故障樹分析,指出電接觸失效是電連接器失效的主要形式,而在正常的工作條件下,造成電接觸失效,即決定電連接器工作壽命的主要原因是氧化膜層

2、的生長、接觸對(duì)磨損以及磨損腐蝕物的堆積,而影響氧化膜層的生長、接觸對(duì)磨損以及磨損腐蝕物堆積的主要因素是環(huán)境振動(dòng)和溫度應(yīng)力,為電連接器進(jìn)行失效機(jī)理分析奠定了基礎(chǔ).第三,分析了電連接器在溫度應(yīng)力下的失效機(jī)理;并通過對(duì)電連接器的結(jié)構(gòu)及電連接器在振動(dòng)應(yīng)力作用下的動(dòng)態(tài)特性進(jìn)行分析,探討了電連接器在振動(dòng)應(yīng)力作用下的失效機(jī)理;通過對(duì)電連接器進(jìn)行環(huán)境溫度、振動(dòng)應(yīng)力綜合作用下的失效分析,確定其主要失效機(jī)理為微動(dòng)磨損,結(jié)合微動(dòng)圖理論對(duì)微動(dòng)過程進(jìn)行分析,為電